顺序X射线荧光光谱仪

FU;分析内容范围:痕量(ppm)常数(%)主要用于分析各种岩石和矿物材料,如:硅酸盐,硅酸铝,碳酸盐,磷灰石,铝土矿,水泥,陶瓷等主要和微量元素的分析,土壤和烟尘颗粒。主要元素(氧化物形式):SiO2,TiO2,Al2O3,Fe2O3,MnO,MgO,CaO,Na2O,K2O,P2O5;微量元素:Ba,Co,Cr,Cu,Ga,Nb,Ni,Pb,Rb,Sr,Th,V,Y,Zn,Zr 3KW,端窗型Rh靶。
光谱晶体:LiF200,LiF220,PET,Ge,TAP,电脑自动控制,θ-2θ角度独立驱动,2θ扫描速度可达1200°/ min,连续扫描速度0.1~180°/ min,扫描角度范围:sc: 5~118°(2θ),PC:7~148°(2θ),步进扫描:0.002~1.0°,停止位置重复性小于0.001°。高压供电:SC:500~1000V,FPC:1500~2500V;计算线性度:SC:1000kcps; FPC:2000kcps工作站:硬件:Sun工作站,OS:UNIX(多任务,多窗口),软件:定量分析:FP方法,后台FP方法,工作误解,在线重新校准,基本效果校正4种回归曲线,定性分析:平滑,背景校正,自动峰选择,定性识别,拟合剥离峰值功能,灵敏度自动控制样品制备方法:玻璃片法和粉末压片法
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